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零件编号 | 制造商 | 描述 | 库存 |
8V182512IDGGREP D# V36:1790_07222207 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
零件编号 | 制造商 | 描述 | 库存 |
8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
1941 |
零件编号 | 制造商 | 描述 | 库存 |
8V182512IDGGREP D# 296-22075-2-ND |
Texas Instruments |
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
0 |
零件编号 | 制造商 | 描述 | 库存 |
8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
172 |
零件编号 | 制造商 | 描述 | 库存 |
8V182512IDGGREP D# NS-8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
3995 |
零件编号 | 制造商 | 描述 | 库存 |
8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
Enhanced Product 3.3-V Abt Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers |
4 |
零件编号 | 制造商 | 描述 | 库存 |
8V182512IDGGREP |
Texas Instruments |
RFQ |
1189 |
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